二次靶轻元素材料分析仪
X-7600SDD LE 在带有二次靶技术的能量色散型X射线荧光分析仪领域中，引进专利技术，重新定义了“先进”的概念。 它为分析调查和开发应用提供了高性能的解决方案，同时，为商业实验室分析提供了一种低成本、高效益的选择。以高精度、sub-ppm检测精度为特色，在环保、地
地面目标物体大范围扫描高光谱分析仪
地面目标物体大范围扫描高光谱分析仪是一种采用新型成像光谱技术的地面遥感器，它的核心是一台带有光学机械扫描器(Mirror Scanner)的成像光谱仪，可进行远距离、大范围目标物体的光学扫描，得到目标的影像及光谱信息。
NOVA制冷型面阵背照式光谱仪
NOVA系列制冷型面阵背照式光谱仪适用于需要极弱光光谱检测及紫外光谱分析的领域，如：>科学研究>荧光光谱分析>复杂光谱分析 >拉曼光谱分析>吸收光谱分析>深紫外光谱
发射光谱/光源光谱测量系统
发光体，如白炽灯、荧光灯、LED等辐射光谱及发光特性的测试，对研究其特性有很大帮助。系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布，而且可在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。
UV-6000PC大屏幕扫描型紫外可见分光光度计
采用悬架式光学系统设计，整体光路独立固定在8mm厚的切削铝制无变形基座上，底板的变形和外界的震动对光学系统不产生任何影响，从而大大提高了仪器的稳定性和可靠性
美国锐科ARIAS 500阿贝折光仪
WYA-2S数字阿贝折射仪主要技术参数：折射率nD：1.3000～1.7000 锤度（Brix）0～95%准确度：折射率nD±0.0002 锤度（Brix）±0.1%温度显示范围（小示值0.1℃）：0～50℃质量：10kg外形：330mm×180mm×380mm
SOC400 / 400T 便携FTIR测量仪
SOC400便携式FTIR红外光谱仪被授予美国航天局（NASA）的技术创新证书。SOC400的发明使得大体积样品的FTIR直接快速检测成为可能，而不需要将样品放入固定形状的样品室。可以现场使用，直接测量平坦或弯曲的样品表面。
UV-8000S型双光束紫外可见分光光度计
UV-8000S双光束大屏幕扫描型紫外可见分光光度计，仪器采用320*240位LCD大屏幕，主机可独立完成光度测量、定量测量、光谱扫描、动力学、DNA/蛋白质测试，多波长测试及数据打印等功能。 仪器标配PC软件一套，可联机操作。
